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本文標(biāo)題："測(cè)量樣品時(shí)使用測(cè)角器,晶粒計(jì)量金相顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-9-29 17:19:01 本站主頁(yè)地址：http://m.f0211.cn
測(cè)量樣品時(shí)使用測(cè)角器,晶粒計(jì)量金相顯微鏡
原因：首先。在很多情況下測(cè)量極圖時(shí)不使用測(cè)角器的擺動(dòng)功能，
這樣如果不考慮口角變化的影響，x射線束在整個(gè)測(cè)量極圖的過(guò)
程中基本上照射同一部分晶粒．因此不會(huì)出現(xiàn)邏輯偏差；另外，當(dāng)
晶粒極為細(xì)小時(shí)樣品任何部位晶粒取向的分布狀態(tài)都可能很接近
整體晶粒取向分布狀態(tài)。
因而在整體上對(duì)極圖質(zhì)量的影響不大；再有，當(dāng)待測(cè)樣
品內(nèi)的織構(gòu)非常強(qiáng)時(shí)大多數(shù)晶粒取向會(huì)分布在某些取向位置附
近．在樣品各個(gè)部位都會(huì)測(cè)到同種織構(gòu)的存在，所以測(cè)量其它取
向晶粒時(shí)出現(xiàn)的邏輯偏差對(duì)整個(gè)極圖的影響并不顯得十分重要，
因而往往被人們所忽略。雖然有如上種種原因，但并不能否認(rèn)邏
輯偏差的存在，只是邏輯偏差被掩蓋了。這就造成了該問(wèn)題的隱
蔽性。
一般認(rèn)為，對(duì)于粗晶樣品為了保證所測(cè)極圖良好的統(tǒng)計(jì)性須
在測(cè)量樣品時(shí)使用測(cè)角器的擺動(dòng)功能。若樣品內(nèi)晶粒比較粗大而
且織構(gòu)不很強(qiáng)．樣品各部位的晶粒取向分布與整體分布的偏差就
會(huì)加大。同樣尺寸的x射線束所能照射的晶粒數(shù)變少．因而同樣
的衍射線不會(huì)在x射線束照射到的任何部位都出現(xiàn)，這時(shí)上述邏
輯偏差就不容易被掩蓋住了。邏輯偏差的出現(xiàn)造成了極圖質(zhì)量的
下降。當(dāng)人們由于樣品晶粒粗而希望借助測(cè)角器的擺動(dòng)功能增加
極圖的統(tǒng)計(jì)性時(shí)明顯出現(xiàn)了邏輯偏差，這就是問(wèn)題的危害性。
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