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采用電子為光源的電子
顯微鏡較光鏡放大倍數(shù)大10萬倍
理論上采用電子作為光源的電子顯微鏡較光學(xué)顯微鏡放大倍數(shù)大
10萬倍,但由于種種原因,實際上只大幾百倍。
1、SEM和TEM工作原理
與光學(xué)顯微鏡的物鏡、目鏡對應(yīng),電子顯微鏡的物鏡和目鏡分
別為電場和磁場透鏡。
電子射到樣品表面時產(chǎn)生多種粒子,通過檢測不同粒子得到不同
信息,如測定光電子功能,可得到結(jié)合能數(shù)據(jù),SEM是研究二次電
子成像的一門技術(shù),所謂二次電子是指入射電子轟擊樣品后,激發(fā)
原子的外層電子面歸射出來,它的能量較小,僅在0-50V之間,并
且來自樣品表面5-10nm的區(qū)域。像的襯度取決于樣品表面起伏狀態(tài)
和元素組成,因此可用于觀察表面形貌,由于立體感強、分辨率高
、制樣簡單,應(yīng)用十分廣泛,TEM有基本原理是入射電子穿透薄的
樣品,讓這部分電子成像,即可得到透射電子像,選擇適當(dāng)條件還
可使透射電子產(chǎn)生衍射斑點,由此可計算晶體手晶格常數(shù)。
由于TEM的樣品要求穿透電子,因此應(yīng)盡可能薄,其制樣復(fù)雜一
些,主要有銅網(wǎng)-火棉膠法、超薄切片法、金屬薄膜法、真空噴鍍
、電解沉積、化學(xué)沉積。此外還有復(fù)型法,就是用一片對電子束透
明的薄片,將要觀察的金屬表面的浮雕“印”在薄片上,把印有浮
雕的薄片拿到電鏡內(nèi)觀察,這個薄片稱為“復(fù)型”。
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