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本文標(biāo)題："粒狀和低反射率工件表面光潔度測(cè)量顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-10-24 17:40:16 本站主頁(yè)地址：http://m.f0211.cn
高光潔度表面往往采用拋光方法，加工紋路極其混亂，其
干涉條紋曲折、斷裂，因而無(wú)法測(cè)量;電火花加工表面呈粒狀，
同樣也無(wú)法測(cè)量。此時(shí)，可應(yīng)用儀器的附件—狹縫目鏡來(lái)
進(jìn)行測(cè)量。如果某工件表面既呈粒狀又為低反射率，那么可
將狹縫目鏡和低反射率反射鏡一起使用(如用在測(cè)量毛玻璃
時(shí))。
用狹縫目鏡測(cè)量時(shí)，工件表面不平深度亦按公式
如果測(cè)量階梯或者測(cè)量具有尖銳邊緣的刻槽，會(huì)引起干
涉條紋中斷。而應(yīng)用本附件(狹縫目鏡)時(shí)，沒(méi)有象使用本機(jī)
時(shí)那樣(在白光照明時(shí))具有和其他彩色干涉條紋相區(qū)別的二
印模法測(cè)量表面光潔度
方法和第三章五、印模方法測(cè)量表面光潔度相同，唯對(duì)高
光潔度表面，印模方法誤差增大，故一般僅適用于▽10,▽11,
再高時(shí)很少應(yīng)用。
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