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高精度表面的輪廓數(shù)據(jù)測量
工具顯微鏡
通常.這些測量儀有較
大的測量范圍.對于某些表面形狀,精度是足夠的.而對較小的光學(xué)表面,可以
使用一臺高梢度x-y掃描儀。如果使該儀器安裝上能夠滿足待測表面對高度和分
辨率要求的光學(xué)探頭,就能高質(zhì)量地測量光學(xué)表面。作為非接觸探頭類儀器.必
須介紹彩色探頭和所謂的錐光探頭
采用這種基本思路,特別是測量強彎曲表面和非球面時,光學(xué)表面計量的一
種趨勢,或者進一步說,是以三坐標(biāo)測量儀為基礎(chǔ),并使其適應(yīng)光學(xué)計量的具體
要求.
一般地,以三坐標(biāo)測量儀為基礎(chǔ)能夠保證探頭相對于待測表面精確的
全方位定位,探頭本身傳送高精度表面的輪廓數(shù)據(jù),一般是高度數(shù)據(jù)。
在這種方式中,最佳應(yīng)用包括位移測量干涉儀(DMI)完成的全方位定位測量
以及探頭外高分辨率局部數(shù)據(jù)。下面討論應(yīng)用該原理的具體例子。
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