---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："淀粉類化合物在熱處理中的變化-顆粒檢測(cè)顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-7-12 19:35:10 本站主頁(yè)地址：http://m.f0211.cn
淀粉類化合物在熱處理中的變化-顆粒檢測(cè)顯微鏡
在使用傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡時(shí)，要用干燥或冷凍(冷凍掃描電子顯微鏡)的方法將樣
品脫水或暫時(shí)把水相凝固成固態(tài)。為了獲得高質(zhì)址的淀粉圖像，樣品必須被金屬覆蓋(如金
或鉑)，以防止樣品充電.或增加二次電子信號(hào)強(qiáng)度(眾所周知，即使被援蓋后也很難獲得
淀粉團(tuán)粒表面高分辨率的圖像)。
為了弄明白淀粉類化合物在熱處理中的變化(吸水，團(tuán)粒溶脹，直鏈淀粉浸出，降解)，
冷凍掃描電子顯微鏡已經(jīng)揭示了傳統(tǒng)細(xì)胞技術(shù)無(wú)法獲得的結(jié)構(gòu)特征. 20世紀(jì)70年代，
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科