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本文標題:"專業(yè)應用于鑒定土壤顆粒礦物-圖像分析顯微鏡"

新聞來源:未知 發(fā)布時間:2014-4-26 19:17:27 本站主頁地址:http://m.f0211.cn

專業(yè)應用于鑒定土壤顆粒礦物-圖像分析顯微鏡


集成映象顯微學
    首先用雙目鏡檢驗,毋須作土樣的前處理。為了掃描電鏡((SEM)的檢驗,
樣本的表面需要能夠導電。應用這種導電涂層,在真空條件下不致造成問題。
對于土壤物質來說,附著雙涂層(例如碳和白金)是適當的,
因為土壤表面有許多微凹凸。
理論上說,這些檢驗方法可放大到300000倍(x 300, 000),但實際上,
土壤物質放大的變幅小得多。

一般放大15000到20000倍是切合實際的。如果導電涂層完全,
放大倍數可接近60000。加上一個能量消散
X射線分析儀(energy dispersive X一r-ay analyser),
可用于半定量的元素分析。
    從雙目鏡檢驗換到掃描電鏡(SEM)
時常發(fā)生一些問題。這往往是由于土壤樣本變干而斷裂,以致改變土壤的
微結構,這些困難可采用凍干法予以克服。

    采用這些技術檢驗,特別是鑒定土壤顆粒礦物,一般是困難的,
    甚至常常是不可能的。在土壤基質中,粘粒礦物經過改
造和混合,不用凍干法是不好研究的。對此,掃描電鏡(SEM)所可放大的
倍數不能達到檢驗隱晶質礦物的要求。在風化的原生礦物中,
對新生粘粒礦物的鑒定一般是可能的。

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